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摘 要:本发明公开了一种基于混合高斯模型的IC元件焊点缺陷检测方法,包括:初始化混合高斯模型的模板个数、权重、均值和方差,同时根据训练图片的高度和宽度建立频率分布图;从训练样本中获取IC焊点训练图片,对混合高斯模型以及频率分布图进行更新;判断训练样本是否已训练完毕,若是则计算训练样本的缺陷度阈值;采集待检测IC元件焊点的图片后,结合训练好的混合高斯模型和频率分布图计算该图片的缺陷度;将该图片的缺陷度与训练样本的缺陷度阈值进行比对后获得IC元件焊点的检测结果。本方法计算量大大减少,检测速度快,而且准确率高,可以有效地检测出IC元件焊点的虚焊缺陷,可广泛应用于IC元件焊点缺陷检测领域中。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201510250915.2 | 专利名称: | 基于混合高斯模型的IC元件焊点缺陷检测方法 |
申请日: | 2015-05-15 | 申请/专利权人 | 广东工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省广州市越秀区东风东路729号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 2018-05-01 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN104867144B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |