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摘 要:本发明公开了一种IC元件焊点空焊检测方法,包括:从训练样本中获取IC焊点训练图片后,获取检测窗位置;将该训练图片位于检测窗内的图像进行HSV变换后,提取视觉上红色分量,计算检测窗内沿引脚向外方向的连续空行数;判断训练样本是否已训练完毕,若是则获取训练样本中连续空行数的最小值和次小值,并对最小值赋予生存周期;采集待检测IC元件的焊点图片后,获取检测窗位置,提取获得检测窗内的连续空行数;将获得的连续空行数与训练样本的连续空行数的最小值进行比对后获得IC元件焊点的检测结果。本方法检测速度快,而且准确率高,可以有效地检测出IC元件焊点的空焊缺陷,可广泛应用于IC元件焊点缺陷检测领域中。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201510253049.2 | 专利名称: | 一种IC元件焊点空焊检测方法 |
申请日: | 2015-05-15 | 申请/专利权人 | 广东工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省广州市越秀区东风东路729号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 2017-08-29 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN104899871B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |