专利名称：一种磁光克尔信号测量方法
申请号：2018104290904
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：半导体材料磁性表征;自旋电子器件研发测试;拓扑绝缘体表面态分析;超快光学响应测量;量子计算比特操控验证
专利名称：一种纳米结构磁性测量方法
申请号：2018104292736
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 物理测量技术
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：纳米材料的磁性表征与分析;半导体器件研发中的磁学性能测试;新型存储介质开发;自旋电子学器件优化;磁性纳米颗粒在生物医学成像中的应用
专利名称：一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法
申请号：2018104172700
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 材料磁畴测量
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：电线电缆质量管控;永磁体性能评估;磁性复合材料研发;失效分析与缺陷定位;材料科学实验研究
专利名称：一种表面纳米结构磁性测量方法
申请号：2018104290887
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 材料磁畴测量
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：半导体器件质量控制;磁性存储介质研发;纳米复合材料表征;薄膜磁性能评估;微观磁学研究
专利名称：一种纳米尺度磁化动态的测量方法
申请号：2018104291343
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：半导体器件研发中的微小磁性结构分析;高密度磁存储介质的性能优化;量子计算用超导量子干涉仪(SQUID)校准;先进磁性薄膜材料的各向异性测试;纳米级自旋电子器件失效机理研究
专利名称：一种样品磁性的原位测量方法
申请号：2018104292721
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：新材料研发过程中的性能表征;工业生产线上的质量监控;科研实验中的动态磁性分析;航空航天部件的缺陷检测;地质勘探样品的快速筛查
专利名称：一种磁化矢量测量方法
申请号：2018104292755
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法律状态：已下证
类型：发明
关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量
相似专利
发布日：2025/09/05
应用场景：油气资源探测;地质构造分析;考古遗址定位;地下管线检测;军事目标识别
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