专利名称：一种磁光克尔信号测量方法      申请号：2018104290904     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种磁光克尔信号测量方法，测量装置包括激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁体、样品台、电源、光电探测器、信号发生器、功率分配器I、计算机、低通滤波器、锁相放大器I、倍频器、功率分配器II、锁相放大器II、入射光路及反射光路，探针中具有通孔，采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品的克尔角的信息，减少了来自于装置本身的某些非磁性效应比如线性双折射和线性二色性对测量准确性的影响，主要光路都在光纤中，减少光路中的光学元件，降低了杂散光的影响，提高了信噪比。

专利名称：一种纳米结构磁性测量方法      申请号：2018104292736     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 物理测量技术   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及物理测量技术领域，一种纳米结构磁性测量方法，测量装置包括激光器、分束器、凸透镜I、光电探测器、锁相放大器、棱镜偏振器、凸透镜II、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、凸透镜III、波片I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁铁、样品台、信号发生器、示波器、波片II、凸透镜IV、平面镜，采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品表面的磁化信息，两个偏振光分量共用一个光路，避免光束分离和重新汇集，能够相对较容易地保证两个光束以同样的光路传播，并减少光路中的光学元件，使得信号较少地受样品以及干涉环路中光学元件的移动影响，提高了信噪比，采用斜入射的光束测量克尔效应的纵向、横向和极向三个分量。

专利名称：一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法      申请号：2018104172700     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 材料磁畴测量   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及材料磁畴测量领域，一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法，测量装置主要包括激光器、滤光片I、棱镜偏振器、白光源、分束器I、分束器II、1/2波片、1/4波片、分束器III、照像机、非球面镜I、滤光片II、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II、位移台、物镜、非球面镜II、样品、样品管、拾波线圈组、磁体、前置放大器、示波器、计算机，能通过照像机观察激光器发出的激光束在样品表面的光点位置，将激光器发射的激光的偏振角设置为45度，当棱镜偏振器的偏振角设置为0度，则光束为S偏振，当棱镜偏振器的偏振角设置为90度，则光束为P偏振，能获得样品中磁化磁畴分布的三维矢量图，并提供磁畴形状判别方法。

专利名称：一种表面纳米结构磁性测量方法      申请号：2018104290887     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 材料磁畴测量   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及光学技术测量领域的磁性测量方法，一种表面纳米结构磁性测量方法，测量装置包括激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、霍尔片、样品台、信号发生器、示波器、探测器、磁体、前置放大器、差分放大器、补偿器、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II，磁体由四个相同的子磁体电缆连接组成，采用高精度的定位装置来获得纳米尺度样品表面的磁化信息，能够对单个纳米结构进行测量，对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率，不依靠相敏检测技术来提取样品表面微小磁化波动的信息，能得到纳米尺度的磁化动态特征。

专利名称：一种纳米尺度磁化动态的测量方法      申请号：2018104291343     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种纳米尺度磁化动态的测量方法，测量装置包括脉冲激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、波导、样品台、信号发生器、示波器、探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II、相敏检测器，能够对单个纳米结构进行测量，对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率，采用两个不同的原子力显微镜针尖分别进行接触模式原子力显微镜扫描以及近场时间分辨磁光克尔效应实验，并采用频域方法来探测样品表面GHz频段的磁化动态，具有较高灵敏度。

专利名称：一种样品磁性的原位测量方法      申请号：2018104292721     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种样品磁性的原位测量方法，测量装置包括光源、非球面镜I、非球面镜II、视场光阑、偏振器、非球面镜III、半透明反射镜、物镜、激光器、样品、样品台、衬底、步进电机、斜面台、顶针、磁体、狭缝光阑、光电探测器I、补偿器、检偏器、非球面镜IV、光电探测器II，无需光阑狭缝来改变样品上的照亮区域，来测量不同方向克尔灵敏度，减小了实验中的机械不稳定性，通过调整开启LED灯的数量和持续时间，调整不同方向的入射光强并根据获得的图像质量实时地调整入射光强度，得到分辨率较好的图像，特别是对某些磁畴磁化方向较为复杂的磁性样品，通过对样品背面施加应力的方法，能够原位研究样品的磁致弹性特性。

专利名称：一种磁化矢量测量方法      申请号：2018104292755     转让价格：面议  收藏
法律状态：已下证   类型：发明   关键词：磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量   相似专利 发布日：2025/05/06  
摘要： 本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种磁化矢量测量方法，测量装置包括光源、非球面镜I、非球面镜II、视场光阑、偏振器、非球面镜III、半透明反射镜、物镜、样品、样品台、磁体、旋转台、补偿器、检偏器、非球面镜IV、光电探测器、锁相放大器、步进电机、计算机，所述光源、非球面镜I、非球面镜II、视场光阑、偏振器、非球面镜III、半透明反射镜、物镜依次组成照明光路，所述物镜、半透明反射镜、补偿器、检偏器、非球面镜IV依次组成成像光路，能够在宽场磁光克尔显微镜中实现了克尔对比度的分离和增强，能够得到任何样品的表面磁化的三维矢量图，并在观测样品中磁畴的实验中抑制了棱镜中的寄生法拉第效应的贡献，增加对比度和信噪比。