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专利详情
发明专利
已授权
一种纳米尺度磁化动态的测量方法
📄 申请号:CN201810429134.3
📄 发布日:2025/09/05
著录项目信息
申请日
2018-04-24
申请人
金华职业技术学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G01R33_12
IPC 分类号
技术画像
所属领域
磁化动力学
磁化动力学
纳米测量技术
磁性材料表征
应用场景
磁存储器件, 自旋电子学, 磁性材料研发, 纳米传感器, 基础科学研究
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摘要
本发明涉及材料表面磁性测量领域,一种纳米尺度磁化动态的测量方法,测量装置包括脉冲激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、波导、样品台、信号发生器、示波器、探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II、相敏检测器,能够对单个纳米结构进行测量,对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率,采用两个不同的原子力显微镜针尖分别进行接触模式原子力显微镜扫描以及近场时间分辨磁光克尔效应实验,并采用频域方法来探测样品表面GHz频段的磁化动态,具有较高灵敏度。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种样品磁性的原位测量方法
当前第 / 件
一种表面纳米结构磁性测量方法
同领域国内专利 · IPC: (G01R33_12)
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