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| 专利/申请号: | CN201810429134.3 | 专利名称: | 一种纳米尺度磁化动态的测量方法 |
| 申请日: | 2018-04-24 | 申请/专利权人 | |
| 专利类型: | 发明 | 地址: | |
| 专利状态: | 已下证 查询审查信息 | IPC分类号: | G01R33/12 分类检索 |
| 公开/公告日: | 转让价格: | 【平台担保交易】 | |
| 公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 | |
| 浏览量: | 13 | 所属领域: | 磁光克尔效应测量装置 材料表面磁性测量专利转让搜索 |
应用场景:半导体器件研发中的微小磁性结构分析;高密度磁存储介质的性能优化;量子计算用超导量子干涉仪(SQUID)校准;先进磁性薄膜材料的各向异性测试;纳米级自旋电子器件失效机理研究
摘 要:本发明涉及材料表面磁性测量领域,一种纳米尺度磁化动态的测量方法,测量装置包括脉冲激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、波导、样品台、信号发生器、示波器、探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II、相敏检测器,能够对单个纳米结构进行测量,对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率,采用两个不同的原子力显微镜针尖分别进行接触模式原子力显微镜扫描以及近场时间分辨磁光克尔效应实验,并采用频域方法来探测样品表面GHz频段的磁化动态,具有较高灵敏度。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
| 专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
| 专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
| 解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
| 专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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