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本发明公开了一种基于EPI的光场图像超分辨的方法，包括以下步骤：1、将光场原始图像和光场相机参数读入光场相机中；2、对原始图像进行解码得到四维的光场矩阵；3、提取四维光场矩阵的位置信息中坐标方向的像素点得到子孔径图像；4、将子孔径图像按行循环，依次提取每幅图像相同高度值的像素点，得到EPI图像；5、对步骤4得到的每幅EPI图像进行超分辨；6、对经过超分辨的EPI图像进行去模糊操作，再将每一个像素点还原到子孔径图像上。本发明通过子孔径图像提取EPI切片，通过对EPI切片进行超分辨更加有利于恢复原始图像的局部细节部分，从而在不提高硬件配置的前提下提高光场图像空间分辨率和角度分辨率。

本发明基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法，具体按照以下步骤实施：步骤1、对光场原始图像进行解码得到四维参数化矩阵L[s，t，u，v]；步骤2、利用四维参数化矩阵L[s，t，u，v]提取得到多个子孔径图像，并将所有的子孔径图像处理得到多个光场水平EPI图像；步骤3、将每个光场水平EPI图像划分为多等份图像，对每等份图像依次进行傅里叶变换、频谱中心化操作得到每等份图像对应的频域图像；步骤4、对每个光场水平EPI图像对应的所有等份频域图像依次进行检测分析确定频域图像上是否存在折射特征，进而确定光场原始图像上的折射区域。本发明基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法，能够精确检测出折射特征。

本发明涉及三维渲染技术领域，具体涉及基于光场图像的全息体视图获取方法、系统和应用。方法包括获取待渲染场景参考视点的色彩图像信息和深度图像信息，确定待渲染场景的注视中心，其中待渲染场景中的场景物体包括若干三维物点；利用辐射光锥对三维物点进行可见性定义，确定三维物点之间的正确遮挡关系；基于参考视点，并依据视图之间的透视相关性和正确遮挡关系渲染虚拟视点图像，获得透视信息得到剪辑的虚拟光场图像；将透视信息得到剪辑的虚拟光场图像转化为物光波，并使物光波与参考光发生干涉，形成具有正确遮挡关系的全息体视图。本发明的方法使得获得具有正确遮挡关系的全息图，且计算量较小。

本发明公开了一种基于光场傅里叶视差分层的特征检测方法，解决了二维图像只能聚焦在某一固定深度，其他深度的目标模糊不清，进而导致二维图像特征检测不全面和深度信息缺失的难题。与现有技术相比，本发明方法的有点在于，可以准确全面地检测到场景各个视差层的目标物体的特征点，且检测到的FDL_Harris特征点具有尺度不变性、旋转不变性和视差信息，并且对亮度变化和噪声不敏感。这些局部不变性使得检测到的特征更加稳定和鲁棒。

本发明提供了一种基于液晶D型光学元件的高清光场成像方法，包括步骤：在基于微透镜阵列的光场成像系统中，将液晶D型光学元件置于主透镜与微透镜阵列之间；在液晶D型光学元件施加电压时，获取目标场景的清晰光场图像；在未加电压时，获取成像探测器的模糊光场图像；计算大气光A；确定未加电压时液晶D型光学元件的透射率，复原目标场景的原始光场图像；基于清晰光场图像和原始光场图像，合成高清光场图像。本发明在主透镜与微透镜阵列之间加入液晶D型光学元件，根据液晶分子指向矢与电压之间的关系，可以获取在不同电压下的光场图像，经过各电压下光场图像数据特征值的提取结合高清光场成像复合算法，实现高清光场的获取。

本发明提出基于光场重采样的集成成像二次成像法，该方法包含立体匹配、3D物点重构和光场重采样三个过程，立体匹配过程寻找到同一3D物点在拍摄微图像阵列中的同名点，3D物点重构过程根据同名点的像素移位和拍摄透镜阵列以及拍摄微图像阵列参数计算出3D物点的真实三维坐标，光场重采样过程将重构的3D物点视为朗伯光源，发出各向均匀的光场信息，由显示透镜阵列对光场信息进行重采样，获得理想的显示微图像阵列。