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摘 要:本发明公开一种SiC单晶片抛光方法,采用含有还原剂、氧化剂、催化剂等化学物质的抛光垫,在抛光压力的作用下,SiC单晶片与抛光垫表面的凸峰相接触,产生摩擦及摩擦热,还原剂释放出氧气,在催化剂及摩擦热等的作用下,氧气与SiC单晶片表面发生氧化反应,在表面生成一层SiO2层,然后由具有自退让功能的磨粒去除;此过程交替进行,实现SiC单晶片表面全局被平坦化。由于采用具有自退让功能的磨粒,磨粒能够随抛光压力的变化而上下退让,当磨粒尺寸不一致或磨粒的凸刃高度不同时,通过磨粒的自退让性,使得加工中磨粒的凸刃高度随压力的变化而变化,控制加工中每个磨粒的切深。抛光后SiC单晶片表面质量高,成本低,废物排放低。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202110870849.4 | 专利名称: | 一种SiC单晶片抛光方法 |
申请日: | 2021-07-30 | 申请/专利权人 | 河南科技学院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 河南省新乡市华兰大道东段河南科技学院机电学院 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | B24B37/24搜分类 C IC 单晶搜索 |
公开/公告日: | 2021-10-22 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN113524025A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2023/04/28 | 授权 | |
2021/11/09 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): B24B 37/24 专利申请号: 202110870849.4 申请日: 2021.07.30 |
2021/10/22 | 公开 |