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摘 要:本发明公开了一种大面积宽带光栅衍射效率的测量方法及装置,包括半导体激光器、斩波器、检测光系统、参考光系统和光电探测装置;该装置采用了双光路检测和斩波器将多个波长的半导体激光光源入射到宽带光栅表面,检测光系统采集‑1级衍射光,并通过二维扫描大面积宽带光栅,完成整个待测大面积宽带光栅表面的衍射效率的测量,抑制激光器功率漂移和环境背景光干扰,同时大大提高了检测效率。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201711205141.7 | 专利名称: | 一种大面积宽带光栅衍射效率测量的方法及装置 |
申请日: | 2017-11-27 | 申请/专利权人 | 苏州大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路199号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01M11/02搜分类 测量测绘 通信网络 网络传输搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |