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摘 要:本发明公开了用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法,采集薄膜测厚仪输出的薄膜剖面图像,根据所述图像获取其中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值和厚度平均值,又根据所述图像先生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线,再计算该曲线上每个点所对应的厚度值,然后根据所输往对象的要求,将厚度值输出或显示,并在厚度值超出预先设置的范围时发出警示。本发明能避开测厚仪特定数据格式的解析,准确获取厚度数据,实现对薄膜剖面的实时厚度自动监测,有效防止了人为监测的误判,为薄膜厚度控制提供了基本依据;而且,本监测方法容易推广到其他类似设备上,具有良好的扩展性。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710429678.5 | 专利名称: | 用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法 |
申请日: | 2017-05-28 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/06搜分类 塑料 PP搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |