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本申请实施例提供一种薄膜的厚度测量系统，包括：探测光纤、第一光纤探头、第二光纤探头、光电转换器、解调放大器、光源、调制脉冲发生器、相敏检波器、选通放大器、整流滤波器、积分型抗干扰器、数模转换电路、单片机以及显示模块。其中，探测光纤包括发射光纤、接收光纤和探头光纤，相敏检波器具有两个输入端，相敏检波器的其中一个输入端依次连接所述调制脉冲发生器和所述光源，相敏检波器的另一个输入端依次连接解调放大器和光电转换器。相敏检波器的输出端依次连接所述选通放大器、整流滤波器、积分型抗干扰器、数模转换电路、单片机以及显示模块。上述系统使用光学测量的方法测量薄膜的厚度，不会对物体造成损伤，测量结果准确。

本发明公开了用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，采集薄膜测厚仪输出的薄膜剖面图像，根据所述图像获取其中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值和厚度平均值，又根据所述图像先生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线，再计算该曲线上每个点所对应的厚度值，然后根据所输往对象的要求，将厚度值输出或显示，并在厚度值超出预先设置的范围时发出警示。本发明能避开测厚仪特定数据格式的解析，准确获取厚度数据，实现对薄膜剖面的实时厚度自动监测，有效防止了人为监测的误判，为薄膜厚度控制提供了基本依据；而且，本监测方法容易推广到其他类似设备上，具有良好的扩展性。