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摘 要:本发明公开的一种Mueller矩阵光谱的测量系统及其测量方法,包括以下步骤:步骤1,打开电源,电源发出的光线通过光纤到达准直系统、起偏器、第一延迟器、第二延迟器、样品台、波片、检偏器、光谱仪;步骤2再改变波片的快轴方位角三次;步骤3,得到光谱仪获取的光强信号I(σ);步骤4,根据波片的快轴方位角θ1、θ2、θ3、θ4,测量对应的光谱强度,然后分别除以Sin,0(σ)/4、接着进行傅里叶逆变换,得到被测样品对应的四个呈通道化分布的干涉强度;步骤5,选择所需干涉强度做傅里叶变换可得被测样品全部16个穆勒矩阵元素光谱。本发明测量系统,结构简单,降低出读次数,减少测量时间,大幅提高测量样品Mueller矩阵光谱的速度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910522725.X | 专利名称: | 一种Mueller矩阵光谱的测量系统及方法 |
申请日: | 2019-06-17 | 申请/专利权人 | 西安理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/21搜分类 测量测绘 R L LED芯片搜索 |
公开/公告日: | 2019-09-20 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110261317A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2021/11/16 | 授权 | |
2019/10/22 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/21 专利申请号: 201910522725.X 申请日: 2019.06.17 |
2019/09/20 | 公开 |