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| 专利/申请号: | CN201510372838.8 | 专利名称: | 一种磁性微位移平台式阶梯角反射镜激光干涉仪的标定方法和测量方法 |
| 申请日: | 2015-06-29 | 申请/专利权人 | |
| 专利类型: | 发明 | 地址: | |
| 专利状态: | 已下证 查询审查信息 | IPC分类号: | G01B9/02 分类检索 |
| 公开/公告日: | 转让价格: | 【平台担保交易】 | |
| 公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 | |
| 浏览量: | 17 | 所属领域: | 精密仪器 精密测试仪器 激光器 激光测量系统 检测仪器 精密机械控制专利转让搜索 |
应用场景:纳米级微位移测量;高精度光学元件校准;精密机械加工误差检测;半导体制造设备定位
摘 要:本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域,特别涉及一种磁性微位移平台式阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法,所述磁性微位移平台式阶梯角反射镜激光干涉仪,包括有激光源、微动阶梯角反射镜、干涉测量光电探测器组、移动角反射镜、分光镜组和磁性微位移平台,所述微动阶梯角反射镜设置在所述磁性微位移平台上,所述激光源向所述分光镜组射出z束激光束,还包括有反射测量光电探测器组,所述第二激光束组在由所述移动角反射镜射向所述分光镜组后还形成有反射激光束组,所述反射激光束组的各激光束分别射向一个所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪,根据反射激光束组的强度确定激光干涉光束的干涉状态,实现抗干扰的目的。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
| 专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
| 专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
| 解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
| 专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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