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摘 要:本发明公开一种基于修剪独立元回归策略的非高斯过程监测方法,旨在将非高斯独立元成分转换为高斯分布的误差信息,从而加强距离型监测指标对正常数据可允许变动范围描述的精确性。具体来讲,本发明方法在已建立的修正型独立元分析(MICA)模型基础上,通过假设缺失数据的技术手段利用修剪后的独立元回归估计出MICA模型的独立元成分,最后利用独立元的估计误差建立平方马氏距离实施在线故障检测。受益于误差的高斯分布特性,本发明方法利用平方马氏距离统计指标所定义的正常数据允许变化区域不会出现稀疏或“空洞”现象,因此,本发明方法能显著提升MICA模型用于非高斯过程监测的故障检测能力,是一种更为优选的非高斯过程监测方法。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201711456608.5 | 专利名称: | 一种基于修剪独立元回归策略的非高斯过程监测方法 |
申请日: | 2017-12-15 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G05B23/02搜分类 过程搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |