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摘 要:本发明公开了一种数字芯片故障检测系统,待测数字芯片的VDD引脚、GND引脚分别通过继电器模块与电源模块的+5V引脚和GND引脚连接,各输入引脚、输出引脚分别通过模拟选择开关与电源模块的+5V引脚和GND引脚连接。单片机通过控制继电器模块、模拟选择开关,使待测数字芯片的任一引脚与+5V电源、GND端中的任一指定位置连接。本发明还公开了一种数字芯片故障检测方法,通过流经VDD引脚和GND引脚的电流大小判断待测引脚是否存在短路、开路故障,根据待测数字芯片的逻辑输出判断待测数字芯片是否存在逻辑功能故障。本发明检测速度快、检测成本低、检测结果可靠。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710568530.X | 专利名称: | 一种数字芯片故障检测系统及其检测方法 |
申请日: | 2017-07-13 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R31/3177搜分类 集成电路 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |