发明专利已授权

基于CMOS传感器的带材对中检测系统及其检测方法

📄 申请号：CN201710882240.2 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2017-09-26

公开号

CN107782258B

公开日

2019-11-22

申请人

西安理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_27

IPC 分类号

G01B11_27 , G05B19_05 ,

技术画像

所属领域

检测方法机器视觉在线检测自动控制系统检测系统传感器检测方法

应用场景

工业自动化, 智能制造, 带材生产, 质量检测, 纠偏控制

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摘要

基于CMOS传感器的带材对中检测系统及其检测方法，包括红外光源，红外光源上部隔着机组传输线设置有检测模块，检测模块包括分别设置在生产机组两侧上部的传感器A和传感器B，传感器A和传感器B的结构相同，均包括由下至上依次设置的镜头、滤光片和CMOS图像传感器，滤光片只允许红外光通过，两个CMOS图像传感器共同连接有复杂逻辑器件，复杂逻辑器件连接有微控制器，微控制器与PLC控制器通信，PLC控制器连接有液压伺服装置，微控制器还通过以太网与上位机进行通信。解决了现有技术中存在的带材对中检测系统易受环境光干扰、检测范围有限的问题。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20191122

✅ 授权

20180403

?? 实质审查的生效：

20180309

📄 公开

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