发明专利 已授权

一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法

📄 申请号:CN201811557538.7 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2018-12-19
公开号
CN109631796B
公开日
2021-04-09
申请人
成都信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业检测, 精密制造, 逆向工程, 光学计量, 科研实验

摘要

本发明公开了一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法,二维S变换是一维S变换方法的拓展,利用二维S变换对条纹进行分析和处理时,窗口大小同时受到条纹瞬时频率两个方向的控制,且不同的局部条纹采用不同尺寸的窗口分析。因此,待分析像素点调制度值的计算结合和利用了周围两个维度像素点的信息,从而能够更准确地获得每个位置的信息,提取条纹调制度值分布。本发明除保留原有调制度测量轮廓术所具有的垂直测量优点外,其还具有三维面形高精度、快速度测量的特点。所以说基于二维S变换取脊方法的调制度测量轮廓方法能够完整地保留被测物体三维面形的细节部分,在三维测量技术方面具有良好的应用前景。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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