实用新型 已授权

半导体致冷器件晶粒机器视觉检测设备

📄 申请号:CN202120598420.X 📄 发布日:2026/07/16

著录项目信息

申请日
2021-03-24
公开号
CN217569707U
公开日
2022-10-14
申请人
泉州师范学院
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体制造, 晶粒质量检测, 工业自动化, 电子元器件检测, 缺陷检测

摘要

本实用新型申请提出一种半导体致冷器件晶粒机器视觉检测设备,其特征在于:包括机架、设在机架上的上料机构和传动机构,所述传动机构包括电机和由电机驱动转动的透明转动盘,所述上料机构将半导体致冷器件晶粒输送至透明转动盘的表面上;所述透明转动盘的旁侧上依次设有整形机构、至少一组用于采集半导体致冷器件晶粒图像的图像采集光学精密机构和用于筛分合格、不合格半导体致冷器件晶粒的分选机构;所述整形机构包括设在机架上的两组相互靠近的第一机座、第二机座和分别转动连接在第一机座、第二机座上第一整形转轮和第二整形转轮,本实用新型半导体致冷器件晶粒机器视觉检测设备设计合理,有利于高效、准确的实现批量生产半导体致冷器件晶粒的分选。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN217569707U

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:132 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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