发明专利 已授权

一种磁场的测量装置

📄 申请号:CN202110573239.8 📄 发布日:2026/06/30

著录项目信息

申请日
2021-05-25
公开号
CN113219383B
公开日
2022-12-06
申请人
韩山师范学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业检测, 科研实验, 地质勘探, 医疗诊断, 航空航天

摘要

本发明公开了磁场的测量装置,该装置包括:衬底层、结构层;结构层设置于所述衬底层上;结构层包括周期排布的结构单元,每个结构单元包括n个矩形条,所述矩形条两两之间首尾顺次相接围成环形,所述矩形条(201)共面且两两之间设置间距,所述矩形条中至少有两个的长径比不同,n都为自然数且n大于等于3;所述矩形条的材质为石墨烯。其中,左旋和右旋圆偏振光照射下所述结构层的折射率不同,也就是左旋和右旋圆偏振光照射下所述结构层的透射率会产生差异,从而用该透射率的差异反映磁场的大小,进而实现对磁场的测量。本发明利用光信号的改变反映磁场的大小,因此会大大提高测磁场测量的灵敏度。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:46 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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