发明专利 已授权

一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法及其系统

📄 申请号:CN202411046617.7 📄 发布日:2026/09/04

著录项目信息

申请日
2024-08-01
公开号
CN118640829B
公开日
2024-10-25
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业自动化, 三维扫描, 精密测量, 智能制造, 质量检测

摘要

本公开涉及一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法及其系统,包括:获取被测物体上的完全偏振条纹;其中,完全偏振条纹为投影仪投射完全偏振编码条纹至被测物体上,通过两台偏振相机拍摄得到;计算嵌入在完全偏振条纹中的相移信息和格雷码信息,并对所述格雷码信息进行二值化处理,得到相移条纹图和二值化的互补格雷码图;利用计算得到的相移条纹图和二值化的互补格雷码图进行相位展开,完成三维测量。本公开方法可以实现高效稳定的相位匹配。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN118640829B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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