发明专利 已授权

一种提高闪烁体X射线探测性能的制备方法

📄 申请号:CN202111072376.X 📄 发布日:2026/05/18

著录项目信息

申请日
2021-10-21
公开号
CN113667469B
公开日
2024-03-01
申请人
中国计量大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

医疗成像, 安全检查, 工业无损检测, 核辐射探测

摘要

本发明公开了一种提高闪烁体X射线探测性能的制备方法,用三正辛基氧化膦对一种铽配合物样品产生表面钝化作用,使其X射线致发光强度提高了约81.8%,与商用CSI(Tl)闪烁体的X射线致发光强度相当,并且对X射线有良好的线性响应,检测极限达到0.146μGy s‑1,比常用的X射线治疗剂量率低38倍。本发明为高性能闪烁体材料的设计提供新的思路,有望在低剂量X射线探测领域得到广泛应用。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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