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一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量装置及方法

Name: 一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量装置及方法
Brand: 电子科技大学
SKU: 2016106491561
Availability: InStock

📄 申请号：CN201610649156.1 📄 发布日：2025/12/10

著录项目信息

申请日

2016-08-09

公开号

CN106247927B

公开日

2019-08-20

申请人

电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B7_34

IPC 分类号

G01B7_34

技术画像

所属领域

测量装置表面粗糙度测量曲面测量技术精密测量仪器测量装置

应用场景

精密加工检测, 工业自动化, 智能制造, 质量检测, 航空航天制造

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摘要

本发明公开了一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量装置，包括安装部件、平动单元、工作平台、转动单元和测量单元，平动单元用于实现测量单元相对于工作平台的三轴向位移；工作平台用于放置待测工件；转动单元用于实现测量单元的姿态的调整，测量单元安装在转动单元的转动端上，该装置可实现具有大曲率特征的负曲率直纹曲面工件的表面粗糙度的测量，且测量过程中的扫描方式符合国家标准。本发明还公开了一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量方法，通过输入坐标的方式设定待测点，可实现待测工件表面任一点的重复定点定位测量，使用户操作更为便捷。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN106247927B

购买这项专利需要经过哪些流程？

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该专利的转让价格是多少？

当前标价为议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

齿轮丝杠

当前第 / 件

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