发明专利已授权

基于主动式Gamma校正的电路板元器件几何检测方法

📄 申请号：CN202311028988.8 📄 发布日：2025/11/16

著录项目信息

申请日

2023-08-16

公开号

CN116734771A

公开日

2023-09-12

申请人

武汉工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_25

IPC 分类号

G01B11_25 , G01N21_956 ,

技术画像

所属领域

电路板机器视觉图像处理工业检测电路板

应用场景

电路板检测, 电子制造, 工业质检

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摘要

本发明公开了一种基于主动式Gamma校正的电路板元器件几何检测方法，包括：确定相机的响应取值范围；确定第一预编码值和第二预编码值；在相机的响应取值范围内生成四步相移光栅图，并利用第一和第二预编码值分别对其进行预编码调制，得到两组经过预编码调制的光栅图；确定理想的相位；获取两组经过预编码调制的光栅图所对应的Gamma值；计算理论预编码值，向电路板上投影经过理论预编码值调制的光栅图，采集电路板的四步相移光栅图像，最终生成电路板的三维点云。采用本发明方法求得的理论预编码值，对相移算法的投影正弦光栅进行预编码调制，调制后的相移算法精度得到了极大的提高，显著消除了光栅非正弦对电路板三维检测的影响。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

基于二值编码光栅散焦投影的电路板元器件几何检测方法

当前第 / 件

基于标记点三角特征聚类的三维扫描重建方法及系统

同领域国内专利 · IPC: (G01B11_25)

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