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摘 要:本发明涉及晶体检测领域,具体涉及一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法,包括立板,立板的侧面设有滑槽;至少一个设置于滑槽内的滑块、与滑块的前侧面固定连接的光滑度测量仪,滑块与滑槽滑动连接;用于驱动滑块在滑槽中作升降运动的升降部;正对于光滑度测量仪的检测头的夹持部,夹持部用于夹持晶体,且夹持部与滑块一一对应,夹持部包括对称设于滑槽两侧的第一气缸、与第一气缸的伸缩杆固定连接的压板,两个压板相对设置;与第一气缸连接的转动部,滑槽的侧壁设有内侧槽,转动部用于带动第一气缸转动,且转动部设于内侧槽内。通过本发明,在对晶体的光滑度进行检测时,可有效减少人体接触晶体的次数,减小了晶体被损伤的风险。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202211137847.5 | 专利名称: | 一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法 |
申请日: | 2022-09-19 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B21/30搜分类 晶体搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |