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摘 要:本发明提供一种自适应光栅尺误差补偿方法,该方法首先对测量误差进行模态分解得到若干个带宽有限的IMF分量,减少了冗余误差的影响,得到更加合理的分解结果,利于后续的本征信号重构;然后,为了选取符合条件的IMF分量来重构测量误差的本征信号,根据本征信号低复杂度、高幅度的数据特征过滤掉了IMF分量中的随机信号分量;由于一些残余噪声可能会泄露到这些候选IMF分量中,影响补偿性能,定义了一个贡献系数从候选IMF中进一步地选出符合条件的IMF分量,并将其用于重构测量误差的本征信号,通过本发明所提出的粗筛到精选的自适应本征分量选取方案,时间成本大大降低,本征信号趋于最优,最后,通过消除测量误差中的本征信号来实现误差补偿。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210385038.X | 专利名称: | 一种自适应光栅尺误差补偿方法 |
申请日: | 2022-04-13 | 申请/专利权人 | 广东工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省广州市越秀区东风东路729号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/00搜分类 高精度测量仪器 位移传感器 工件测量搜索 |
公开/公告日: | 2023-10-03 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN114812390B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |