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摘 要:本发明公开了一种Delaunay三角网约束下的影像匹配粗差剔除方法及装置,包含如下步骤:对于任意两张需要进行影像匹配的具有重叠区域的影像所构成的影像对,基于SIFT算法分别提取这两张影像的初始匹配点,得到初始匹配点集合;基于所述初始匹配点集合,采用Delaunay三角网构建局部连接关系;基于局部连接关系,利用线段描述子构建局部辐射约束:基于局部连接关系,利用空间角度顺序构建局部几何约束;进行基于局部辐射约束和局部几何约束的粗差剔除和全局约束的匹配结果优化。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910246942.0 | 专利名称: | 一种Delaunay三角网约束下的影像匹配粗差剔除方法及装置 |
申请日: | 2019-03-29 | 申请/专利权人 | 中国地质大学(武汉) |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/33搜分类 AU L LED芯片 三 港口搜索 |
公开/公告日: | 2021-05-04 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110111375B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |