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摘 要:本发明公开了基于缺陷微波光子晶体的等离子体电磁参数测量方法,包括如下步骤:(1)构建一维等离子体缺陷微波光子晶体结构,利用传输矩阵法模拟等离子体电磁参数与等离子体缺陷微波光子晶体缺陷透射峰的频率偏移量和峰值之间的关系;(2)测量等离子体缺陷微波光子晶体的透射谱,通过所述偏移量和峰值反演被测等离子体电磁参数。本发明通过测量手段得到缺陷透射峰的强度与频率位置,反演出微波光子晶体等离子体缺陷的电磁参数,实现了等离子体电磁参数的非接触式测量。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202111107805.2 | 专利名称: | 基于缺陷微波光子晶体的等离子体电磁参数测量方法 |
申请日: | 2021-09-22 | 申请/专利权人 | 南京信息工程大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省盐城市盐南高新区新河街道文港南路105号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H05H1/00搜分类 教学教具搜索 |
公开/公告日: | 2021-12-10 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN113784491A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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日期 | 法律信息 | 备注 |