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本发明公开了抑制暗计数的单光子计数电路及其抑制暗计数的方法。目前通常采用制冷技术降低光电器件的温度来实现减少暗计数，这限制了精密器件，增加整个系统的功耗。本发明抑制暗计数的方法：利用复位电路以及源跟随器将脉冲宽度转化为与宽度大小成比例的模拟电压值，再通过A/D转换器，将模拟电压值转化为数字量；A/D转换器的输出值包括暗计数脉冲和有效脉冲的转化值，其中包括随机变量和常量；A/D转换器的输出值传输到处理器，处理器分辨出常量和随机变量，剔除随机变量，同时将常量输出到计数器，计数器进行计数；消除的那部分随机变量即产生的暗计数脉冲，从而达到本发明抑制暗计数的效果。

本发明公开了一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的装置。包括：激光器产生分数阶关联涡旋光，调整光束光斑大小使其能覆盖全息型相位板；测量分数阶关联涡旋光的交叉谱密度函数(CCF)，并观测该函数空间中待测关联涡旋光横截面上分数拓扑荷(FTC)缺口位置；在空间光调制器上加载数字全息相位板并调整其方位角，使数字全息相位板产生的CCF缺口与待测关联涡旋的FTC缺口重合；使用小孔光阑选取空间光调制器反射出的一级衍射光；改变数字全息相位板的相位差；使待测光场CCF中FTC缺口与相位板缺口的重合处呈现：缺口出现‑缺口消失‑缺口出现；使用这三个现象所对应的相位差，计算FTC的小数部分，结合整数拓扑荷部分得出关联涡旋光分数阶拓扑荷的最终值。

本发明涉及一种基于双光子关联的相干涡旋拓扑荷的测量方法。所述基于双光子关联的相干涡旋拓扑荷的测量方法包括如下步骤：产生非相干纠缠光子对；将所述纠缠光子对通过分束器分为i光子和s光子；控制计算机使通过空间光调制器的s光子获得涡旋相位，然后将光信号耦合到单模光纤，用雪崩二极管进行单点测量；控制计算机使通过空间光调制器的i光子获得特定的振幅和相位，然后将光信号耦合到单模光纤，用雪崩二极管进行单点测量；将两路所测量的光信号进行关联计算并用计算机记录；通过改变i光子所在光路的空间光调制器的透射系数，寻找输出关联值中的最大值；该最大值所对应的i光子透射系数就是s光子的涡旋拓扑荷值。本发明采用非相干纠缠光子对作为光源，在单光子水平上对相干涡旋的拓扑荷进行了测量，具有测量结果准确、测量范围大的优点。

本实用新型的一种小光斑的光束质量测量分析系统，通过在壳体内置孔径光阑和激光功率探测头，配合在光纤调节装置与孔径光阑之间增设调焦组，通过改变调焦组，可以快速调节孔径光阑与光纤输出之间的相对位置，从而以得到激光束的光束发散角。与现有技术相比较，本实用新型的孔径光阑与光纤调节装置之间位置的改变，无需改变孔径光阑的位置或者是光纤调节装置的物理位置，且其调节仅仅需要通过伺服电机带动调节轮旋转，从而以改变调节盘的转动，实现不同的调焦组处于检测中，调节更加迅速快捷，测量降低人工误差，使其检测更加精确。

本发明涉及一种分布式FBG传感网络多峰自适应精确寻峰方法，属于光纤传感系统的信号处理技术领域。该方法采用五点滑动均值滤波法平滑光谱信号，消除信号噪声对寻峰精度的影响；利用Hilbert变换处理平滑后的光谱信号，获得多峰光谱信号的峰值初定位点；平滑后的信号经Gabor滤波获得光谱左边带的分割点，并结合峰值初定位点对称获得谱峰的右分割点；以光谱左、右分割点为边界，对多峰光谱进行峰值区域分割；以初定位峰值点为中心对分割后的谱峰积分求得左、右半峰的面积，并通过比较其大小判断谱峰偏移情况；结合谱峰的峰形，采用指数修正高斯拟合算法对各个谱峰精确寻峰，以获得多峰的精确峰值点。本方法可以用于对分布式传感网络的多峰光谱信号自适应峰值区域分割及高精度峰值定位。

本发明涉及一种可双模式工作的雪崩光电探测器，属于传感器领域。包括可调电阻器R1，雪崩光电二极管APD，取样电阻Rs，低噪声放大器，多路开关1，线性放大器，计数器，信号处理器，数‑模转换器，以及多路开关2；APD通过可调电阻器R1被偏置高压反向偏置，然后通过取样电阻Rs接到地端；通过取样电阻Rs，APD探测光子得到的电流信号，被转化为电压信号后，输入低噪声放大器；低噪声放大器提供一定的增益，提高信噪比和后端驱动能力，以免APD输出信号在后续处理中被引入的噪声淹没，便于后续处理。

本发明公开了一种基于MZM强度调制的飞秒激光脉冲同步提取装置和方法。通过锁相环产生与飞秒激光脉冲一一对应的同步时钟；在同步时钟上升沿后延时特定时间输出同步提取脉冲，经放大后传输至MZM进行调制，实现光脉冲的同步提取；对提取后的光脉冲进行探测，滤波放大后获得频率为提取脉冲频率的低频信号和频率为飞秒激光重复频率的高频信号，用锁相放大器求得两信号幅值。进行延时扫描，直到低频信号幅值达到最大；进行偏压扫描，直到高频信号幅值降至最低，实现光脉冲泄漏的检测与抑制。本发明解决了传统方法中由于不同步导致的脉冲提取失败和飞秒激光泄漏问题，提高了飞秒激光脉冲提取稳定性，可以广泛应用于光脉冲精密测量技术领域。