实用新型 已授权

一种小光斑的光束质量测量分析系统

📄 申请号:CN202021200151.9 📄 发布日:2026/08/03

著录项目信息

申请日
2020-06-24
公开号
CN212844019U
公开日
2021-03-30
申请人
武汉铢寸科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

激光加工, 激光设备检测, 光学实验, 科研仪器, 激光通信

摘要

本实用新型的一种小光斑的光束质量测量分析系统,通过在壳体内置孔径光阑和激光功率探测头,配合在光纤调节装置与孔径光阑之间增设调焦组,通过改变调焦组,可以快速调节孔径光阑与光纤输出之间的相对位置,从而以得到激光束的光束发散角。与现有技术相比较,本实用新型的孔径光阑与光纤调节装置之间位置的改变,无需改变孔径光阑的位置或者是光纤调节装置的物理位置,且其调节仅仅需要通过伺服电机带动调节轮旋转,从而以改变调节盘的转动,实现不同的调焦组处于检测中,调节更加迅速快捷,测量降低人工误差,使其检测更加精确。

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这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN212844019U

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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