发明专利已授权

一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法

📄 申请号：CN202110596850.2 📄 发布日：2026/08/03

著录项目信息

申请日

2021-05-31

公开号

CN113155296A

公开日

2021-07-23

申请人

中国计量大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01J11_00

IPC 分类号

G01J11_00

技术画像

所属领域

光学测量技术光学测量技术涡旋光束技术光信息处理

应用场景

光通信, 量子信息处理, 光学精密测量, 激光雷达, 微粒操纵

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摘要

本发明公开了一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的装置。包括：激光器产生分数阶关联涡旋光，调整光束光斑大小使其能覆盖全息型相位板；测量分数阶关联涡旋光的交叉谱密度函数(CCF)，并观测该函数空间中待测关联涡旋光横截面上分数拓扑荷(FTC)缺口位置；在空间光调制器上加载数字全息相位板并调整其方位角，使数字全息相位板产生的CCF缺口与待测关联涡旋的FTC缺口重合；使用小孔光阑选取空间光调制器反射出的一级衍射光；改变数字全息相位板的相位差；使待测光场CCF中FTC缺口与相位板缺口的重合处呈现：缺口出现‑缺口消失‑缺口出现；使用这三个现象所对应的相位差，计算FTC的小数部分，结合整数拓扑荷部分得出关联涡旋光分数阶拓扑荷的最终值。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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