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一种基于双光子关联的相干涡旋拓扑荷的测量法

📄 申请号：CN201711181534.9 📄 发布日：2026/08/03

著录项目信息

申请日

2018-03-06

公开号

CN107941353B

公开日

2024-01-09

申请人

中国计量大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01J11_00

IPC 分类号

G01J11_00

技术画像

所属领域

光学测量光学测量量子光学涡旋光束

应用场景

光学精密测量, 量子信息处理, 光通信, 光学涡旋调控, 科学实验

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摘要

本发明涉及一种基于双光子关联的相干涡旋拓扑荷的测量方法。所述基于双光子关联的相干涡旋拓扑荷的测量方法包括如下步骤：产生非相干纠缠光子对；将所述纠缠光子对通过分束器分为i光子和s光子；控制计算机使通过空间光调制器的s光子获得涡旋相位，然后将光信号耦合到单模光纤，用雪崩二极管进行单点测量；控制计算机使通过空间光调制器的i光子获得特定的振幅和相位，然后将光信号耦合到单模光纤，用雪崩二极管进行单点测量；将两路所测量的光信号进行关联计算并用计算机记录；通过改变i光子所在光路的空间光调制器的透射系数，寻找输出关联值中的最大值；该最大值所对应的i光子透射系数就是s光子的涡旋拓扑荷值。本发明采用非相干纠缠光子对作为光源，在单光子水平上对相干涡旋的拓扑荷进行了测量，具有测量结果准确、测量范围大的优点。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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