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摘 要:本发明公开了一种基于FDTD的材料微观缺陷太赫兹无损检测仿真方法,解决在太赫兹波段检测时微观缺陷无法被精确的识别,以及在针对微观缺陷检测时没有准确的微观缺陷模型的时序特征波形对照标准的问题。包括以下步骤:获取实际检测的太赫兹光源并对太赫兹光源进行信号处理;对于色散介质及非色散介质光学参数的优化拟合;建立多参数微观缺陷仿真模型样本库,对微观缺陷进行电磁场仿真,构建多参数特征波形;太赫兹波段检测微观缺陷仿真模型进行反演,判定微观缺陷的存在情况,进而完成标定微观缺陷的微观厚度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201911410910.6 | 专利名称: | 基于FDTD的材料微观缺陷太赫兹无损检测仿真方法 |
申请日: | 2019-12-31 | 申请/专利权人 | 长春理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/88搜分类 微 F 检测技术 无损搜索 |
公开/公告日: | 2022-10-21 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN111122585B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |