发明专利已授权

一种提高均匀分布SERS基底光谱一致性的方法

📄 申请号：CN202111192565.0 📄 发布日：2026/04/27

著录项目信息

申请日

2021-10-13

公开号

CN114062344A

公开日

2022-02-18

申请人

苏州科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N21_65

IPC 分类号

G01N21_65

技术画像

所属领域

表面增强拉曼散射表面增强拉曼散射纳米材料光谱分析

应用场景

生物传感器, 化学分析, 食品安全检测, 环境监测, 医学诊断

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摘要

本发明是一种提高均匀分布SERS基底光谱一致性的方法，该方法包括以下步骤：步骤1）首先构建微纳结构占空比的计算方法；步骤2）测量不同占空比下的拉曼光谱强度，建立微纳结构占空比与拉曼光谱强度之间的定量关系并形成相应的关系公式；步骤3）利用关系公式，以基准占空比进行反演测量不同区域得到不同的光谱强度，推算出其对应基准占空比的光谱强度，从而获得SERS基底的光谱强度。本发明能够消除微纳结构占空比对光谱强度的影响，无须改进基底制备工艺，仅利用测量光谱时的显微图像，即可大幅提升SERS基底的光谱一致性。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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