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摘 要:本发明公开了一种平面光学元件旋转平移绝对检测中心对准方法。首先在被测光学元件表面上选取一个特征标记点,被测光学元件绕光轴作多次旋转操作时,记录变动后特征点的位置,标记点轨迹是以旋转中心为圆心的圆,将标记点轨迹进行拟合得出旋转中心像素坐标。获取参考面上多个边缘坐标点同样进行圆拟合,得到参考面的圆心像素坐标。得到参考面中心与旋转中心的偏离距离,用调整机构分别在X,Y方向上调整旋转平台位置,使其与参考面中心重合。该方法采用最小二乘法拟合圆形轨迹,得到参考面和旋转中心,从而达到精确对准的目的,为波面重建提供较准确的波面信息,从而提高绝对检测的精度,具有很重要的作用。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010618708.9 | 专利名称: | 一种平面光学元件旋转平移绝对检测中心对准方法 |
申请日: | 2020-06-30 | 申请/专利权人 | 西安工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市未央区学府中路2号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/00搜分类 光学仪器 仪器仪表 旋转 检测搜索 |
公开/公告日: | 2021-09-07 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN111707191B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2021/09/07 | 授权 | |
2020/10/27 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/00 专利申请号: 202010618708.9 申请日: 2020.06.30 |
2020/09/25 | 公开 |