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一种光学元件表面微小缺陷二维轮廓的检测方法

来源:https://www.shizifang.com  发布日:2023/10/17

摘     要:本发明涉及光学表面缺陷检测技术领域,具体涉及一种光学元件表面微小缺陷二维轮廓的检测方法。以克服现有技术存在的结构复杂、测量精度低、数据量大和测量时间长的问题。本发明采用的步骤为:1)激光束经过光束整形系统形成会聚光,会聚光经过样品反射后到达CCD靶面,调整样品位置、姿态,使会聚点位于靶面中心且垂直于CCD靶面,反射点到靶面中心的距离为L;2)光束照在样品表面缺陷区域,CCD上得到散射分布图;3)对散射分布图求出中心位置,以中心位置为基准点,沿不同方向取值可以得到一维的光强分布曲线I(w);4)重复步骤三的过程,对于散射图在不同的方向上取值,可以获得缺陷在不同取样方向上的宽度值,由此拟合出缺陷的二维轮廓。

著 录 项: 

专利/申请号: CN201910311988.6 复制 专利名称: 一种光学元件表面微小缺陷二维轮廓的检测方法 复制
申请日: 2019-04-18 申请/专利权人 西安工业大学
专利类型: 发明 地址: 陕西省西安市未央区学府中路2号
专利状态: 已下证 查询审查信息 分类号: G01N21/958搜分类   光学仪器 表 仪器仪表 微 微生物采样 检测搜索
公开/公告日: 2021-06-29 转让价格: 面议
公开/公告号: CN110006924B 交易状态: 等待洽谈   搜索相似专利

专利交易流程

  • 1. 买家选定所需专利,确认国家手续办理方,下单,确认交易合同;
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专利转让材料

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    专利转让协议(需盖公章)一式两份 专利转让协议(需签字)一式两份
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    解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请)
    专利转让协议(需盖公章)一式两份 专利转让协议(需签字)一式两份
    专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件
    专利证原件(若授权下证) 专利证原件(若授权下证)

专利法律信息

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