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摘 要:本发明涉及一种DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法,其能够准确解析干涉条纹的相位信息,并能够准确测量所观测恒星的视向速度。包括以下步骤:步骤1:根据光谱波数范围Δk,确定在波数方向上离散采样点总数N和探测器沿色散方向的采样率kint=Δk/N;步骤2:根据公式(12)确定仪器中固定延迟干涉仪模块的光程差d,选取最大值1/2kint;步骤3:对仪器获取的二维干涉光谱,沿波数方向进行傅里叶变换,将干涉信息转换到频域空间;步骤4:在频域空间,通过利用带通或高通滤波,滤除白光导致的干涉条纹信息S1的±d频率项;步骤5:对经过滤波后的干涉光谱频域信息,再进行傅里叶逆变换,获得由恒星吸收线导致的摩尔条纹S2。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010064113.3 | 专利名称: | DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法 |
申请日: | 2020-01-20 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01J3/45搜分类 智能仪器仪表 干 F搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |