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摘 要:一种基于随机两步相移的面形检测方法,属于光学检测技术领域,本发明要解决现有技术对测量环境要求苛刻和测量误差大的问题。本发明所提供的技术方案是:随机获取两步相移干涉图,通过随机两步相移算法对这两幅干涉图进行相位解调;对解调后的相位图进行相位解包,并用Zernike多项式进行波面拟合求解待测面形。本发明只需要随机两幅干涉图就可以实现待测面的面形求解,降低了测量系统的复杂性,减少了提取相移量或恢复相位的计算时间,操作简单,测量精度高。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010618877.2 | 专利名称: | 一种基于随机两步相移的面形检测方法 |
申请日: | 2020-06-30 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/24搜分类 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |