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摘 要:本发明公开了一种金刚石薄膜厚度及光学常数检测方法,先依据椭偏光谱数据及吸收光谱数据判断金刚石薄膜是单晶金刚石薄膜或多晶金刚石薄膜,再依据光谱数据分别选择不同计算方式以获光学常数和薄膜厚度,一方面不仅能获折射率和薄膜厚度,而且还能获消光系数,另一方面,单晶金刚石薄膜采用Cauchy模型计算以获光学常数和薄膜厚度,多晶金刚石薄膜则选择波段并依据振子模型和评价函数MSE计算以获光学常数和薄膜厚度,因此可检测单晶及多晶金刚石薄膜,能获光学常数折射率、消光系数和厚度,检测精度高、测量时间短。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202011296380.X | 专利名称: | 一种金刚石薄膜厚度及光学常数检测方法 |
申请日: | 2020-11-18 | 申请/专利权人 | 华侨大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/06搜分类 塑料 检测搜索 |
公开/公告日: | 2022-07-29 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN112361973B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2022/07/29 | 授权 | |
2021/03/05 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/06 专利申请号: 202011296380.X 申请日: 2020.11.18 |
2021/02/12 | 公开 |