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摘 要:一种基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析方法,包括如下步骤:1)因X射线辐射不可见,先利用可见光激光器进行系统光轴校准,校准完成后将发出不可见的X射线辐射的X射线光管移入系统光轴;2)利用X射线阵列组合折射透镜集成组件形成荧光探测微束;3)多个不同的X射线子光束被对应的X射线阵列组合折射透镜聚焦,多个焦斑的叠加最终形成X射线探测微束,并照射到样品台上的被检样品;4)X射线探测器贴近样品台上的被测样品放置,收集X射线探测微束照射被测样品所产生的二次荧光,并送入信息采集分析模块进行荧光分析。本发明提供一种同时具备高微区分辨率和高灵敏度,并可进行现场分析的小型化微束X射线荧光分析方法。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810366800.3 | 专利名称: | 基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析方法 |
申请日: | 2018-04-23 | 申请/专利权人 | 浙江工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N23/223搜分类 射线 微 阵列 荧光分析 组合搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2024/01/12 | 专利权的转移 | 登记生效日: 2023.12.28 专利权人由浙江工业大学变更为宁波舜视科技有限公司 地址由310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号变更为315400 浙江省宁波市杭州湾新区世纪城梦想公寓8号楼2308号 |
2020/06/30 | 授权 | |
2018/09/21 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 23/223 专利申请号: 201810366800.3 申请日: 2018.04.23 |
2018/08/28 | 公开 |