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摘 要:一种基于FPGA和减法电路的正弦信号相位差测量方法,包括以下步骤:1)根据被测量信号的频率以及幅值,利用FPGA以及D/A转换模块生成两路相同频率相同幅值的正弦信号;2)将两路相同频率相同幅值的正弦信号经过减法电路进行相减,得到一路正弦信号;3)将相减得到的一路正弦信号进行滤波、放大以及A/D采样之后传输给FPGA的RAM中;4)将存在RAM中的波形数据传给上位机的显示控制软件,并读取其峰峰值;5)拟合出两路正弦信号之间的相位差与A/D采样峰峰值之间的线性关系式并写入到上位机程序里面,从而实现两路正弦信号之间相位差的检测。本发明提硬件电路简单以及不涉及复杂的算法,并且可以有效的提高测量的精度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710727323.4 | 专利名称: | 一种基于FPGA和减法电路的正弦信号相位差测量方法 |
申请日: | 2017-08-23 | 申请/专利权人 | 浙江工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R25/00搜分类 电子 P F 电路搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |