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摘 要:本发明属于微纳结构三维表面形貌测量领域,具体为一种时域频域联合分析宽光谱相干测量方法及系统,方法包括获取一系列的采样干涉条纹图像,分别提取像素点所对应的原始扫描信号;对该扫描信号分别进行时域调制度分析,提取出扫描信号的调制度曲线,通过调制度极大值点确定靠近零光程差点的采样点位置,可作为中心点并提取一段相对于中心点对称的扫描信号;将对称扫描信号进行空间频域分析,利用频谱相位信息确定零光程差点的相对位置;结合调制度极大值点位置和零光程差点的相对位置,联合求解得到每个像素点的表面形貌高度,确定被测物体三维表面形貌。本发明采取逐像素的方式求取被测微纳结构的表面形貌高度,其理论测量精度可达亚纳米量级。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201911125563.2 | 专利名称: | 一种时域频域联合分析宽光谱相干测量方法及系统 |
申请日: | 2019-11-18 | 申请/专利权人 | 重庆邮电大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 重庆市南岸区南山街道崇文路2号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/24搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 2020-02-11 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110779464A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2021/06/18 | 授权 | |
2020/03/06 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/24 专利申请号: 201911125563.2 申请日: 2019.11.18 |
2020/02/11 | 公开 |