发明专利 已授权

一种电光相位调制器残余幅度调制系数的测试装置及方法

📄 申请号:CN202010743516.0 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2020-07-29
公开号
CN111970051A
公开日
2020-11-20
申请人
重庆邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

光通信系统, 光纤传感, 激光雷达, 微波光子学, 高精度光学测量

摘要

本发明请求保护一种电光相位调制器残余幅度调制系数的测试装置及方法。本发明由激光器、微波信号源、辅助微波信号源、待测电光相位调制器、辅助电光强度调制器、光电探测器和频谱分析模块组成,其中,激光器、待测电光相位调制器、辅助电光强度调制器、光电探测器依次光连接,微波信号源与待测电光相位调制器的输入电极端为电连接,辅助微波信号源与辅助电光强度调制器的输入电极端为电连接,光电探测器输出端与频谱分析模块为电连接;设置微波信号源输出信号频率f1与辅助微波信号源输出信号频率f2的关系为f1≈2f2的情况下,通过频谱分析模块,获得拍频成分f1-f2和f2成分的功率比值,实现对待测电光相位调制器的残余幅度调制系数的高精度、自校准测试。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20220322
✅ 授权
20201208
?? 实质审查的生效 :
20201120
📄 公开

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