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| 专利/申请号： | CN202010107472.2 | 专利名称： | 一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法 |
| 申请日： | 2020-02-21 | 申请/专利权人 | 苏州大学 |
| 专利类型： | 发明 | 地址： | 江苏省苏州市姑苏区十梓街1号 |
| 专利状态： | 已下证 查询审查信息 | 分类号： | G01B11/06分类检索 扫描仪 干 厚度检测 断层扫描专利转让搜索 |
| 公开/公告日： | 2021-09-10 | 转让价格： | 【平台担保交易】 |
| 公开/公告号： | CN111288902B | 交易状态： | 等待洽谈 搜索相似专利 |
摘 要：本发明涉及一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法，扫频光学相干断层扫描成像系统包括扫描成像系统，以及给扫描成像系统提供光源的扫频光源，扫描成像系统包括分别与扫频光源对应衔接的样品臂和参考臂，扫频光源分别给所述样品臂和参考臂提供采样光源或参考光源；样品臂还对应有样品放置平台，样品放置平台包括定位待测样品的姿态调整单元；样品臂与参考臂返回的光发生干涉形成干涉信号，干涉信号由平衡光电探测器检测并回传给PC机。本发明提供了一种双侧视图OCT系统，将OCT技术进一步扩展到了不透明材料的厚度测量，提高了测量非透明材料厚度的精度。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（签字） |
| 专利转让委托书（需盖公章）一式两份 | 专利转让委托书（需签字）一式两份 | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（需申请人签字） |
| 解除代理委托书（需盖公章）一式两份（如专利通过代理机构申请） | 解除代理委托书（需签字）一式两份（如专利通过代理机构申请） | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件（若授权下证） | 专利证原件（若授权下证） |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 2021/09/10 | 授权 | |
| 2020/07/10 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/06 专利申请号: 202010107472.2 申请日: 2020.02.21 |
| 2020/06/16 | 公开 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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