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专利名称:
一种计算机断层扫描系统
申请号:
2013103910678
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法律状态:已下证 类型:发明 关键词:
医疗 断层扫描
相似专利
发布日:2024/10/31
摘要: 一种计算机断层扫描系统,该计算机断层扫描系统的扫描轨道为正多边形扫描轨道,所述电源和探测器装配在轨道上,并且可以在其所在的边上自由移动。光源和探测器在正多边形轨道上运动时是直线平移,较基于圆形轨道或者螺旋轨道扫描,对机械精度要求较低,机械实现更加容易。
专利名称:
X射线断层扫描方法和系统
申请号:
2014105728528
转让价格:面议
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法律状态:已下证 类型:发明 关键词:
医疗 断层扫描
相似专利
发布日:2024/10/31
摘要: 一种X射线断层扫描方法,所述方法包括:通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压,控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描;利用平板探测器接收透过所述被检测对象的X射线,获得多角度的X射线投影图像;采集所述X射线投影图像的数据,并对采集到的数据进行重建得到所述被检测对象的断层图像。采用该方法,既能提高空间分辨率又能提高扫描速度。此外,还提供一种X射线断层扫描系统。
专利名称:
一种处理正电子发射断层扫描PET数据的方法及终端
申请号:
2019111633918
转让价格:面议
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法律状态:已下证 类型:发明 关键词:
电子 断层扫描
相似专利
发布日:2024/08/02
摘要: 本申请适用于计算机技术领域,提供了一种处理正电子发射断层扫描PET数据的方法及终端,包括:获取待处理响应线的两端分别对应的第一坐标和第二坐标;基于所述第一坐标以及所述第二坐标,计算所述待处理响应线在待生成的正弦图中对应的维度坐标;基于所述维度坐标生成所述待处理响应线对应的正弦图。上述方式,终端获取待处理响应线两端分别对应的两个坐标,通过计算得到待处理响应线的物理位置,基于待处理响应线对应的维度坐标生成待处理响应线对应的正弦图。这种生成正弦图的方法,减少了系统矩阵的计算量,提高了响应线的位置信息的准确度,进而提高了生成的正弦图的准确度。
专利名称:
一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法
申请号:
2020101074722
转让价格:面议
收藏
法律状态:已下证 类型:发明 关键词:
扫描仪 干 厚度检测 断层扫描
相似专利
发布日:2023/03/30
摘要: 本发明涉及一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法,扫频光学相干断层扫描成像系统包括扫描成像系统,以及给扫描成像系统提供光源的扫频光源,扫描成像系统包括分别与扫频光源对应衔接的样品臂和参考臂,扫频光源分别给所述样品臂和参考臂提供采样光源或参考光源;样品臂还对应有样品放置平台,样品放置平台包括定位待测样品的姿态调整单元;样品臂与参考臂返回的光发生干涉形成干涉信号,干涉信号由平衡光电探测器检测并回传给PC机。本发明提供了一种双侧视图OCT系统,将OCT技术进一步扩展到了不透明材料的厚度测量,提高了测量非透明材料厚度的精度。
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