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摘 要:本发明提出了一种将微透镜阵列和显微物镜及光谱分光系统相结合构成的光场光谱显微成像方法及系统,能够在一个积分时间内获取物体的光场和光谱五维向量信息,该成像系统前置物镜选用显微物镜,给微小物质的组成成分的探测提供了方便;微透镜阵列放置在显微物镜的像平面位置,前端显微物镜和微透镜阵列构成光场显微成像系统,微透镜阵列的像平面可获取样本的四维光场信息;因此微透镜阵列后记录的光场信息同时经分光系统传播到探测器平面,光场光谱显微成像系统可以在不需要扫描的情况下获取样本整体的光谱信息;探测器放置在分光系统的像平面位置,对前端光路结构捕获的五维向量数据进行算法重构可以获得不同波长及不同视角的物体信息。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201610383141.5 | 专利名称: | 一种基于微透镜阵列的光场光谱显微成像方法及系统 |
申请日: | 2016-06-02 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G02B21/02搜分类 微 阵列搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |