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摘 要:本发明公开了一种基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统,其包括:激光器、第一电光强度调制器、光纤耦合器、单模光纤、可调光衰减器、第一可调光延时线、第二可调光延时线、平衡光电探测器、放大器、第二电光强度调制器、光电探测器和信号分析装置。本发明无需使用电移相器、电混频器与电耦合器等电子器件,本发明的相位噪声测量系统具有工作带宽大和响应平坦的优点;无需使用高性能、低相噪的参考信号源,避免了参考源对测量系统带宽、噪底的限制;通过载波抑制技术,使得待测噪声获得较大的增益,从而提升测量灵敏度;抑制了放大器的附加相位噪声和激光器、光纤引入的相对强度噪声,从而降低相位噪声测量系统的噪底。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210065149.2 | 专利名称: | 基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统及方法 |
申请日: | 2022-01-20 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H04B10/079搜分类 测量测绘 微 噪声搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |