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摘 要:本发明公开的基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置,包括光源,光源后按照光线入射顺序依次设置有光线、准直系统、起偏器、波片、样品台、高阶相位延迟器、Wollaston棱镜和接收单元;准直系统包括按照入射光线依次设置的第一透镜和第二透镜;接收单元包括光谱仪a和光谱仪b,光谱仪a和光谱仪b分别处于Wollaston棱镜的出射光方向。本发明的测量方法与时间调制型相比,测量时间降低至少4倍;与强度调制型相比,通道数量由37个降低为3个,通道间隔增大了37/3倍,复原Muellr矩阵光谱的分辨率提高了37/3倍的同时大幅降低通道串扰产生的概率,有很好的实用价值。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910549729.7 | 专利名称: | 基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法 |
申请日: | 2019-06-24 | 申请/专利权人 | 西安理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/21搜分类 测量测绘 四 R L LED芯片搜索 |
公开/公告日: | 2021-11-16 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110261319B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2021/11/16 | 授权 | |
2019/10/22 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/21 专利申请号: 201910549729.7 申请日: 2019.06.24 |
2019/09/20 | 公开 |