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摘 要:本发明公开了一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法,二维S变换是一维S变换方法的拓展,利用二维S变换对条纹进行分析和处理时,窗口大小同时受到条纹瞬时频率两个方向的控制,且不同的局部条纹采用不同尺寸的窗口分析。因此,待分析像素点调制度值的计算结合和利用了周围两个维度像素点的信息,从而能够更准确地获得每个位置的信息,提取条纹调制度值分布。本发明除保留原有调制度测量轮廓术所具有的垂直测量优点外,其还具有三维面形高精度、快速度测量的特点。所以说基于二维S变换取脊方法的调制度测量轮廓方法能够完整地保留被测物体三维面形的细节部分,在三维测量技术方面具有良好的应用前景。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201811557538.7 | 专利名称: | 一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法 |
申请日: | 2018-12-19 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/25搜分类 测量测绘 三维搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |