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摘 要:一种用于X射线衍射仪的薄膜测试样品台,由一个固定支架、三根弹簧、一个平板型样品架、一个调节螺丝组成。所述的固定支架为直角“Z”字形,在固定支架下方平板中央开有螺丝孔,及三个弹簧钩孔,平板型样品架也开有三个弹簧拉钩孔,平板型样品架通过三个弹簧分别通过拉钩孔与固定支架相联接,调节螺丝穿过固定支架的螺丝孔与样品架下底面接触,通过调节螺丝,可以自由调节样品架的高度,最终使样品表面与固定支架上表面在同一平面内。本发明可以方便不同规格样品的X射线衍射测量,特别是不同衬底厚度的薄膜样品的X射线衍射测量。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201310223577.4 | 专利名称: | 一种X射线衍射仪薄膜测试样品台 |
申请日: | 2013-06-03 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N23/20搜分类 塑料 射线 样品搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |