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摘 要:本发明公开了基于双螺旋点扩散函数的波前传感器、探测方法及系统,其中,所述基于双螺旋点扩散函数的波前探测方法通过微透镜阵列对待测波前进行聚焦,获得微透镜阵列上所有孔径的高斯点阵图;通过双螺旋点扩散函数系统将所述高斯点阵图转换为双螺旋点阵图;根据所述高斯点阵图和双螺旋点阵图获得混合波前斜率值;对所述混合波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息,通过将探测到的高斯光斑转换为双螺旋的形式可以获得探测波前经微透镜阵列后的像点三维空间坐标精确信息,能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,在目标物体产生轴向位移的时候,依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下大大提高了传感器轴向的探测范围。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201611006492.0 | 专利名称: | 基于双螺旋点扩散函数的波前传感器、探测方法及系统 |
申请日: | 2016-10-26 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01J9/00搜分类 传感器 探测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |