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摘 要:本发明公开了一种基于透射型液晶空间光调制器的激光光束M2因子测量方法,包括:根据液晶空间光调制器的器件参数和透镜相位分布函数,计算生成所需焦距透镜的理想相位灰度图;搭建光路系统,并调整光路系统中起偏器和检偏器的角度,使液晶空间光调制器处于正确工作状态,然后加载不同焦距透镜的相位灰度图至液晶空间光调制器并采集对应焦距的光斑图像;计算不同焦距透镜相位灰度图对应光斑图像的光斑半径,并通过曲线拟合计算得到待测激光光束的M2因子。本发明具有快速、准确、装置简单和成本低的优点,可广泛应用于光学信息处理领域。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201410659717.7 | 专利名称: | 基于透射型液晶空间光调制器的激光光束M2因子测量方法 |
申请日: | 2014-11-18 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01J1/00搜分类 激光 测量测绘 空间搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2016/07/06 | 授权 | |
2015/04/08 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01J 1/00 专利申请号: 201410659717.7 申请日: 2014.11.18 |
2015/03/11 | 公开 |