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摘 要:晶硅抛光片表面缺陷检测系统,包括激光模块、光学扫描模块、图形检测模块、晶硅抛光片运动模块以及显示控制模块,所述激光模块与所述光学扫描模块相连接,所述光学扫描模块固定于待检测晶硅抛光片的上方一侧,所述图形检测模块以π/2弧度固定于待检测晶硅抛光片上方相对于所述的光学扫描模块的另一侧,并与所述显示控制模块相连接;所述晶硅抛光片运动模块与所述显示控制模块相连接。本发明利用激光相干性、方向集中和高分辨率的特性,结合光机电一体化以及图像算法的方法进行晶硅抛光片表面质量的检测,可实现晶硅抛光片表面细小裂纹、细小颗粒、沾污、凸凹等缺陷的检测,为集成电路与太阳能光伏电池的生产提供可靠的质量检测保证。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201210086505.5 | 专利名称: | 一种晶硅抛光片表面缺陷检测系统 |
申请日: | 2012-03-28 | 申请/专利权人 | 浙江工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省杭州市下城区潮王路18号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/88搜分类 表 硅 港口 检测搜索 |
公开/公告日: | 2014-11-05 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN102621152B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2020/10/02 | 专利权的转移 | 登记生效日: 2020.09.11 专利权人由浙江工业大学变更为上海信智精密光学有限公司 地址由310014 浙江省杭州市下城区潮王路18号变更为201815 上海市嘉定区北和公路255号10幢一、二层 |
2014/11/05 | 授权 | |
2012/09/26 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/88 专利申请号: 201210086505.5 申请日: 2012.03.28 |
2012/08/01 | 公开 |